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集成电路芯片、分立器件、晶体管等元器件的耐湿性测试
HAST一般称为高加速温湿度应力试验或是高加速应力试验。CTI华测检测HAST测试实验室通过施加严酷的温度、湿度并提高水汽压力，水汽通过封装材料或管脚渗透，用来评价元器件在潮湿环境中的可靠性，CTI拥有专业资质、经验丰富的技术专家团队，同时可根据客户的技术需求
提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准
CTI华测检测可提供完整的芯片封装可靠性环境试验项目，包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、环境应力试验、封装品质试验等一站式服务，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准。
集成电路芯片、分立器件、被动器件等电子元器件的可靠性试验
电子设备主要是由电子元器件组成的。电子元器件是构成电子设备最小和最基本的单元，电子元器件的可靠性直接影响电子设备可靠性。CTI华测检测可以针对元器件从无损检测、破坏性物理分析、失效分析、可靠性分析等各方面进行质量检验检测，为产品的工艺改进、质量及可靠性的提升提供支持。
可提供定制化的服务方案，从芯片设计、制造到测试，确保产品质量的稳定性和可靠性。
华测蔚思博检测拥有专属的硬件设计团队，具备与客户沟通及设计合作的丰富经验。秉持客户导向的服务基础，并透过直接讨论修正，以提供高质量、快速交期，协助客户在竞争的市场中，取得产品上市的先机。
汽车电子芯片，分立器件，光电元器件，传感器，多芯片模组，被动元器件等车用电子、零部件的可靠性认证（AEC-Q100、101、102、103、104、200）
汽车行业在飞速发展同时，汽车行业的质量要求也越来越高。加强汽车在各种环境状况下的安全性、准确性以及可靠性成为各大主机厂现如今考虑的重大课题。车用电子主要依据AEC作为车规验证标准，AEC目前主要是针对车载应用，汽车零部件，汽车车载电子实施标准规范，建立质量管理控制标准，提高车载电子的稳定性和标准化。
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