精彩回顾｜CTI受邀出席汽车电子认证方法论与失效分析技术交流会并发表演讲

芯片洞察再添利器！CTI华测检测引进国产超高分辨扫描电镜

随着芯片集成度的不断提高，结构日臻复杂，对芯片结构的极致显微分析能力对于失效分析实验室显得尤为重要。为此，CTI华测检测半导体检测及分析中心于年底正式引进了国仪量子SEM5000X场发射扫描电子显微镜，实验室的芯片检测与分析能力迈上新台阶，为合作伙伴提供更可靠、更及时、更有效的质量保障。

2025-12-17 05:32:07

CTI华测检测定制化DPA方案｜助力企业把关芯片质量

市场竞争日益激烈，产品质量是企业获取竞争优势的重要因素之一。芯片作为产品的“大脑”、设备的核心，芯片质量的好坏将对产品的质量、性能产生至关重要的影响。

2024-01-22 02:04:49

CTI华测检测诚邀您出席半导体高功耗芯片测试能力宣讲会

伴随着国内科技的不断发展，ag真人平台官方对芯片功能的要求也在不断的提高，芯片内部的晶体管也越来越多，功耗越来越高，本次华测半导体芯片研讨会主要针对大功耗AECQ项目及失效分析和硬件测试方面和各位来宾进行深入探讨。在此，ag真人平台官方诚邀您出席，衷心感谢您的支持与指导。

2023-12-05 23:56:41

面板驱动芯片RA老化服务

全面评估芯片在长期使用过程中的性能稳定性和可靠性，芯片老化测试,芯片RA检测,芯片RA测试,驱动芯片

芯片防静电测试

芯片静电ESD测试是半导体产品先期质量验证的重要关键指针，避免芯片在生产或使用过程中被静电放电所损伤,静电放电防护电路,ESD耐压能力,静电防护能力测试

芯片去层分析 (Delayer)

可帮助客户深入了解芯片的内部结构和性能，并为产品改进提供有力支持。